LCE-X型LCD材料特性测试系统

LCE-X型LCD材料特性测试系统

LCE-X型LCD材料特性测试系统是继6254型LCD材料测试系统和LCM-3A型TFT液晶面板测试系统的更新机种。可以测试电压保持率（VHR）、残留DC偏压（RDC）、离子密度（Ion Density），测试通道可扩张到大8通道同时测试或者48通道扫描测试，并可配备DCV模组，用于测试实际面板。

本设备被TFT-LCD、LCOS行业用户广泛采用，是行业内认可度高的标准检测设备，为用户在LCD材料开发、品质管理、不良解析、工艺和材料优化等方面提供了可靠的检测手段。

测试项目

＊电压保持率

＊离子密度

＊残留DC偏压（可叠加矩形波）

特点

＊LCD面板、材料行业内的标准机台

＊大同时8Ch或扫描48Ch

＊电压保持率测试重复稳定性高

＊离子密度扩展到了低频0.001Hz

＊实现各功能部件一体化

＊测试主机和电脑对接可使用USB线

＊可使用笔记本电脑控制测试

測定例

＊电压保持率测试

＊离子密度测试

＊残留DC偏压测试

加载DC电压

加载DC+AC电压

系统构成

测试条件

电压保持率

加载电压：-10~10V

加载时间：10μ~10sec

测试时间：10μ~200sec

测试刻度：10V、1V、100ｍV

重复次数：1~10 Cycles

离子浓度测试

电压振幅：0~10V

加载频率：1m~20ｋHz

电流刻度：1n~10ｍA

重复次数：1~10Cycles

残留DC偏压

加载电压：-10~10V

加载时间：1~14,400sec

Offset电压：-10~10V

矩形波振幅：-10~10V(Offset电压+矩形波在-10V~10V范围内）

矩形波频率：10~240Hz

短路时间：0.1~５sec

测试时间：1~3,600sec