东阳特克尼卡

高频阻抗测试系统 LN-Z2-HF/HT-Z2-HF

作为固态电解质离子导电性测试及半导体物性评价的先进解决方案，本系统实现了 ～100MHz高频和大范围变温下的全自动阻抗测试

应用案例1

通过变温和高频阻抗测定进行粒子及粒界的Arrhenius评价

  • 对压粉，烧结后的氧化物或硫化物样品进行阻抗测试时，可以理想地将样品的阻抗分为粒子单体阻抗，粒界（粒子之间）阻抗，电界面阻抗三个成分。在对材料进行活化能特性分析时，可通过各个温度点的阻抗 测定取得Arrhenius曲线，但是移动度高的粒子阻抗很小，用1MHz程度的频率无法取得粒子和粒界独立的阻 抗谱数据。
  • 本测试系统可以在90K（-183℃）～873K（600℃）的宽广温度范围内实现高达100MHz的阻抗测试，通过 本系统可以分离固态电解质等材料的粒子，粒界的阻抗值并进行独立的特性评价。